Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Капитанов, Я. И. - Выбор элементной базы ВОСПИ методоммодельной закалки
Капитанов, Я. И. - Выбор элементной базы ВОСПИ методоммодельной закалки
Книга (аналит. описание)
Автор: Капитанов, Я. И.
Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, ...: Выбор элементной базы ВОСПИ методоммодельной закалки
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Капитанов, Я. И.
Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, ...: Выбор элементной базы ВОСПИ методоммодельной закалки
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Капитанов, Я. И.
Выбор элементной базы ВОСПИ методоммодельной закалки / Я. И. Капитанов // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.). Тонкие пленки в электронике: материалы XXII Междунар. симп. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2009 . – С. 240-243 .
Капитанов, Я. И.
Выбор элементной базы ВОСПИ методоммодельной закалки / Я. И. Капитанов // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.). Тонкие пленки в электронике: материалы XXII Междунар. симп. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2009 . – С. 240-243 .