Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Щербакова, Г. Ю. - Оценка параметров распределения дефектов ИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
Щербакова, Г. Ю. - Оценка параметров распределения дефектов ИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
Книга (аналит. описание)
Автор: Щербакова, Г. Ю.
Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, ...: Оценка параметров распределения дефектов ИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Щербакова, Г. Ю.
Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, ...: Оценка параметров распределения дефектов ИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Щербакова, Г. Ю.
Оценка параметров распределения дефектов ИС с помощью помехоустойчивой кластеризации / Г. Ю. Щербакова, В. Н. Крылов // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.). Тонкие пленки в электронике: материалы XXII Междунар. симп. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2009 . – С. 332-338 .
Щербакова, Г. Ю.
Оценка параметров распределения дефектов ИС с помощью помехоустойчивой кластеризации / Г. Ю. Щербакова, В. Н. Крылов // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.). Тонкие пленки в электронике: материалы XXII Междунар. симп. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2009 . – С. 332-338 .