Электронный каталог библиотеки МИСИС

Книга (аналит. описание)

Белозоров, Д. П.
Метод измерения диэлектрической проницаемости структур на основе опаловых матриц в миллиметровом диапазоне длин волн / Д. П. Белозоров, М. К. Ходзицкий, С. В. Недух, С. И. Тарапов, М. И. Самойлович, А. Б. Ринкевич, С. М. Клещева // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.). Тонкие пленки в электронике: материалы XXII Междунар. симп. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2009 . – С. 339-341 .