Электронный каталог -Якушев, М. В. - Контроль состава гетероэпитаксиальных слоев Cd(1-z)Zn(z)Te методом спектральной эллипсометрии- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Якушев, М. В. - Контроль состава гетероэпитаксиальных слоев Cd(1-z)Zn(z)Te методом спектральной эллипсометрии

Якушев, М. В. - Контроль состава гетероэпитаксиальных слоев Cd(1-z)Zn(z)Te методом спектральной эллипсометрии

Статья
Автор: Якушев, М. В.
Физика и техника полупроводников: Контроль состава гетероэпитаксиальных слоев Cd(1-z)Zn(z)Te методом спектральной эллипсометрии
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья

Якушев, М. В.
Контроль состава гетероэпитаксиальных слоев Cd(1-z)Zn(z)Te методом спектральной эллипсометрии / М. В. Якушев, В. А. Швец, И. А. Азаров, С. В. Рыхлицкий, Ю. Г. Сидоров, Е. В. Спесивцев, Т. С. Шамирзаев // Физика и техника полупроводников . – 2010 . – Т. 44, N 1 . – С. 62-68 .