Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бабанов, Ю. А. - Высокоразрешающий метод EXAFS-диагностики локальных искажений кристаллической решетки в мультисло...
Бабанов, Ю. А. - Высокоразрешающий метод EXAFS-диагностики локальных искажений кристаллической решетки в мультисло...
Статья
Автор: Бабанов, Ю. А.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Высокоразрешающий метод EXAFS-диагностики локальных искажений кристаллической решетки в мультисло...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Бабанов, Ю. А.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Высокоразрешающий метод EXAFS-диагностики локальных искажений кристаллической решетки в мультисло...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Бабанов, Ю. А.
Высокоразрешающий метод EXAFS-диагностики локальных искажений кристаллической решетки в мультислойных металлических наноструктурах / Ю. А. Бабанов, Ю. А. Саламатов // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2011 . – N 1 . – С. 35-41 .
Бабанов, Ю. А.
Высокоразрешающий метод EXAFS-диагностики локальных искажений кристаллической решетки в мультислойных металлических наноструктурах / Ю. А. Бабанов, Ю. А. Саламатов // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2011 . – N 1 . – С. 35-41 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 1
2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 1
2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный