Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Валянский, С. И. - Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии
Валянский, С. И. - Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии
Доступно
3 из 5
3 из 5
Книга
Автор: Валянский, С. И.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие
Издательство: Изд-во МИСиС, 2011 г.
ISBN 978-5-87623-460-5
Автор: Валянский, С. И.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие
Издательство: Изд-во МИСиС, 2011 г.
ISBN 978-5-87623-460-5
Книга
N2055 II-6 В-168
Валянский, С. И.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие / С. И. Валянский, Е. К. Наими; ред. Д. Е. Капуткин ; МИСиС, Каф. физики . – М. : Изд-во МИСиС, 2011 . – 172с. : рис. + Библиогр.: с. 152-159. - Прил.: с. 171-172 . – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=507256 . - Пособие МИСиС . - ISBN 978-5-87623-460-5 .
537.86(075.8)
Общий = Физика : электромагнетизм : волны
Общий = Материаловедение : наноматериалы
Дисциплины = Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть : Современные методы диагностики и исследования наногетероструктур
Грифы = 2: УМО и НМС
444081 00:На списании
444082 00:На списании
444083 01:Книгохранение
444084 01:Книгохранение
444085 01:Книгохранение
N2055 II-6 В-168
Валянский, С. И.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие / С. И. Валянский, Е. К. Наими; ред. Д. Е. Капуткин ; МИСиС, Каф. физики . – М. : Изд-во МИСиС, 2011 . – 172с. : рис. + Библиогр.: с. 152-159. - Прил.: с. 171-172 . – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=507256 . - Пособие МИСиС . - ISBN 978-5-87623-460-5 .
537.86(075.8)
Общий = Физика : электромагнетизм : волны
Общий = Материаловедение : наноматериалы
Дисциплины = Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть : Современные методы диагностики и исследования наногетероструктур
Грифы = 2: УМО и НМС
444081 00:На списании
444082 00:На списании
444083 01:Книгохранение
444084 01:Книгохранение
444085 01:Книгохранение