Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Аргунова, Т. С. - Использование белого синхротронного излучения для исследования дефектов структуры в монокристалла...
Аргунова, Т. С. - Использование белого синхротронного излучения для исследования дефектов структуры в монокристалла...
Статья
Автор: Аргунова, Т. С.
Кристаллография: Использование белого синхротронного излучения для исследования дефектов структуры в монокристалла...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Аргунова, Т. С.
Кристаллография: Использование белого синхротронного излучения для исследования дефектов структуры в монокристалла...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Аргунова, Т. С.
Использование белого синхротронного излучения для исследования дефектов структуры в монокристаллах Si1-xGex / Т. С. Аргунова, А. Г. Забродский, Л. М. Сорокин, Н. В. Абросимов, Дж. Х. Дже // Кристаллография . – 2011 . – Т. 56, N 5 . – С. 868-875 .
Аргунова, Т. С.
Использование белого синхротронного излучения для исследования дефектов структуры в монокристаллах Si1-xGex / Т. С. Аргунова, А. Г. Забродский, Л. М. Сорокин, Н. В. Абросимов, Дж. Х. Дже // Кристаллография . – 2011 . – Т. 56, N 5 . – С. 868-875 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1