Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Евтихиев, В. П.
Связь надежности лазерных диодов с кристаллическим совершенством эпитаксиальных слоев, оцениваемым методом высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии / Физика полупроводниковых приборов / В. П. Евтихиев, Е. Ю. Котельников, И. В. Кудряшов, В. Е. Токранов, Н. Н. Фалеев // Физика и техника полупроводников . – 1999 . – Т. 33, N 5 . – 634-638 .