Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: 5. Метрология наноструктур (топографический и структурный анализ)
5. Метрология наноструктур (топографический и структурный анализ)
Книга (аналит. описание)
Автор:
Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов): 5. Метрология наноструктур (топографический и структурный анализ)
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов): 5. Метрология наноструктур (топографический и структурный анализ)
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
5. Метрология наноструктур (топографический и структурный анализ) // Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) : учеб. пособие / В. Я. Шевченко, В. А. Жабрев, Ф. В. Гречников, В. А. Михеев; М-во образования и науки РФ, Самар. гос. аэрокосм. ун-т . – Самара : Изд-во СГАУ, 2010 . – С. 172-217 .
5. Метрология наноструктур (топографический и структурный анализ) // Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) : учеб. пособие / В. Я. Шевченко, В. А. Жабрев, Ф. В. Гречников, В. А. Михеев; М-во образования и науки РФ, Самар. гос. аэрокосм. ун-т . – Самара : Изд-во СГАУ, 2010 . – С. 172-217 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Книга
Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов): учеб. пособие
Изд-во СГАУ, 2010 г.
ISBN 978-5-7883-0750-3
Библиотека МИСиС : Научный
Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов): учеб. пособие
Изд-во СГАУ, 2010 г.
ISBN 978-5-7883-0750-3
Библиотека МИСиС : Научный