Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Меламед, Ш. Г. - О точности спектрального анализа по слабым линиям при фотографической регистрации
Меламед, Ш. Г. - О точности спектрального анализа по слабым линиям при фотографической регистрации
Книга (аналит. описание)
Автор: Меламед, Ш. Г.
Методы аналитического контроля в промышленности редких металлов и полупроводниковых материалов: О точности спектрального анализа по слабым линиям при фотографической регистрации
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Меламед, Ш. Г.
Методы аналитического контроля в промышленности редких металлов и полупроводниковых материалов: О точности спектрального анализа по слабым линиям при фотографической регистрации
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Меламед, Ш. Г.
О точности спектрального анализа по слабым линиям при фотографической регистрации / Ш. Г. Меламед // Научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности ГИРЕДМЕТ. Научные труды . – М. : Металлургиздат, 1959. - 22/200 : Методы аналитического контроля в промышленности редких металлов и полупроводниковых материалов / Гиредмет . – М. : Металлургия, 1968 . – С. 292-295 .
Меламед, Ш. Г.
О точности спектрального анализа по слабым линиям при фотографической регистрации / Ш. Г. Меламед // Научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности ГИРЕДМЕТ. Научные труды . – М. : Металлургиздат, 1959. - 22/200 : Методы аналитического контроля в промышленности редких металлов и полупроводниковых материалов / Гиредмет . – М. : Металлургия, 1968 . – С. 292-295 .
Привязано к:
Доступно
2 из 2
Книга
22/200. : Методы аналитического контроля в промышленности редких металлов и полупроводниковых материалов
Металлургия, 1968 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
22/200. : Методы аналитического контроля в промышленности редких металлов и полупроводниковых материалов
Металлургия, 1968 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный