Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сошников, А. И. - Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
Сошников, А. И. - Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
Доступно
1 из 1
1 из 1
Диссертация
Автор: Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
Издательство: [МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Автор: Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
Издательство: [МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Диссертация
С-697д
Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников" / А. И. Сошников ; науч. рук. В. Д. Бланк . – М. : [МИСиС], 2011 . – 115с. : рис. + Библиогр.: с. 109-115 .
537.311.322.082.7-022.532(043.3)
Общий = Физика : электричество : электрические свойства материалов
Общий = Материаловедение : наноматериалы
Общий = Физика : полупроводники
461427 19:Фонд дис.МИСИС
С-697д
Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников" / А. И. Сошников ; науч. рук. В. Д. Бланк . – М. : [МИСиС], 2011 . – 115с. : рис. + Библиогр.: с. 109-115 .
537.311.322.082.7-022.532(043.3)
Общий = Физика : электричество : электрические свойства материалов
Общий = Материаловедение : наноматериалы
Общий = Физика : полупроводники
461427 19:Фонд дис.МИСИС