Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Кузнецов, П. В. - Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМ...
Кузнецов, П. В. - Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМ...
Статья
Автор: Кузнецов, П. В.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМ...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Кузнецов, П. В.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Кузнецов, П. В.
Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига / П. В. Кузнецов, И. В. Петракова, Т. В. Рахматуллина, А. А. Батурин, А. В. Корзников // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2012 . – N 4 . – С. 26-34 .
Кузнецов, П. В.
Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига / П. В. Кузнецов, И. В. Петракова, Т. В. Рахматуллина, А. А. Батурин, А. В. Корзников // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2012 . – N 4 . – С. 26-34 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 4
2012 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 4
2012 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный