Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Жухлистов, А. П. - Электронографическое исследование иллитов 1М с переслаивающимися транс- и цис-вакантными 2:1 слоями
Жухлистов, А. П. - Электронографическое исследование иллитов 1М с переслаивающимися транс- и цис-вакантными 2:1 слоями
Статья
Автор: Жухлистов, А. П.
Кристаллография: Электронографическое исследование иллитов 1М с переслаивающимися транс- и цис-вакантными 2:1 слоями
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Жухлистов, А. П.
Кристаллография: Электронографическое исследование иллитов 1М с переслаивающимися транс- и цис-вакантными 2:1 слоями
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Жухлистов, А. П.
Электронографическое исследование иллитов 1М с переслаивающимися транс- и цис-вакантными 2:1 слоями / А. П. Жухлистов, И. В. Викентьев, О. В. Русинова // Кристаллография . – 2012 . – Т. 57, N 2 . – С. 319-324 .
Жухлистов, А. П.
Электронографическое исследование иллитов 1М с переслаивающимися транс- и цис-вакантными 2:1 слоями / А. П. Жухлистов, И. В. Викентьев, О. В. Русинова // Кристаллография . – 2012 . – Т. 57, N 2 . – С. 319-324 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1