Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Дроздов, Ю. Н. - Анализ состава твердых растворов (Al, Ga) As методами вторично-ионной масс-спектрометрии и рентге...
Дроздов, Ю. Н. - Анализ состава твердых растворов (Al, Ga) As методами вторично-ионной масс-спектрометрии и рентге...
Статья
Автор: Дроздов, Ю. Н.
Физика и техника полупроводников: Анализ состава твердых растворов (Al, Ga) As методами вторично-ионной масс-спектрометрии и рентге...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Дроздов, Ю. Н.
Физика и техника полупроводников: Анализ состава твердых растворов (Al, Ga) As методами вторично-ионной масс-спектрометрии и рентге...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Дроздов, Ю. Н.
Анализ состава твердых растворов (Al, Ga) As методами вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии / Ю. Н. Дроздов, М. Н. Дроздов, В. М. Данильцев, О. И. Хрыкин, П. А. Юнин // Физика и техника полупроводников . – 2012 . – Т. 46, N 11 . – С. 1419-1423 .
Дроздов, Ю. Н.
Анализ состава твердых растворов (Al, Ga) As методами вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии / Ю. Н. Дроздов, М. Н. Дроздов, В. М. Данильцев, О. И. Хрыкин, П. А. Юнин // Физика и техника полупроводников . – 2012 . – Т. 46, N 11 . – С. 1419-1423 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 46, N 11
2012 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 46, N 11
2012 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный