Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Волков, П. В. - Оптический мониторинг технологических параметров в условиях молекулярно-пучковой эпитаксии
Волков, П. В. - Оптический мониторинг технологических параметров в условиях молекулярно-пучковой эпитаксии
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Автор: Волков, П. В.
Физика и техника полупроводников: Оптический мониторинг технологических параметров в условиях молекулярно-пучковой эпитаксии
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Волков, П. В.
Физика и техника полупроводников: Оптический мониторинг технологических параметров в условиях молекулярно-пучковой эпитаксии
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Волков, П. В.
Оптический мониторинг технологических параметров в условиях молекулярно-пучковой эпитаксии / П. В. Волков, А. В. Горюнов, А. Ю. Лукьянов, А. Д. Тертышник, А. В. Новиков, Д. В. Юрасов, Н. А. Байдакова, Н. Н. Михайлов, В. Г. Ремесник, В. Д. Кузьмин // Физика и техника полупроводников . – 2012 . – Т. 46, N 12 . – С. 1505-1509 .
Волков, П. В.
Оптический мониторинг технологических параметров в условиях молекулярно-пучковой эпитаксии / П. В. Волков, А. В. Горюнов, А. Ю. Лукьянов, А. Д. Тертышник, А. В. Новиков, Д. В. Юрасов, Н. А. Байдакова, Н. Н. Михайлов, В. Г. Ремесник, В. Д. Кузьмин // Физика и техника полупроводников . – 2012 . – Т. 46, N 12 . – С. 1505-1509 .