Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Методы анализа поверхности
Методы анализа поверхности
На полку
Книга (аналит. описание)
Методы анализа поверхности // Спектроскопия : пер. с нем. / Ю. Беккер . – М. : Техносфера, 2009 . – С. 474-504. – (Мир химии) .
Методы анализа поверхности // Спектроскопия : пер. с нем. / Ю. Беккер . – М. : Техносфера, 2009 . – С. 474-504. – (Мир химии) .
Привязано к:
Доступно
3 из 3
Книга
Беккер, Ю.
Спектроскопия: пер. с нем.
ISBN 978-5-94836-220-5
Библиотека МИСиС : Научный
Беккер, Ю.
Спектроскопия: пер. с нем.
Серия: Мир химии
Техносфера, 2009 г.ISBN 978-5-94836-220-5
Библиотека МИСиС : Научный