Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Рабинович, О. И. - Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в техно...
Рабинович, О. И. - Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в техно...
Доступно
15 из 15
15 из 15
Книга
Автор: Рабинович, О. И.
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в техно... : лаб. практикум
Издательство: Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-710-1
Автор: Рабинович, О. И.
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в техно... : лаб. практикум
Издательство: Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-710-1
Заказать 
На полку
Книга
N2293 VIII-5 Р-125
Рабинович, О. И.
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов : лаб. практикум / О. И. Рабинович, Д. Г. Крутогин ; МИСиС, Каф. технологии материалов электроники . – М. : Изд-во МИСиС, 2013 . – 41с. : рис. + Библиогр. в конце лаб. работ. – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=540421 . - Пособие МИСиС . - ISBN 978-5-87623-710-1 .
621.315.592(075.8)
Общий = Материаловедение : полупроводники
Грифы = 2: УМО и НМС
Дисциплины = Б1 Дисциплины (модули) : Базовая часть : Основы технологии электронной компонентной базы
518001 01:Книгохранение
518002 01:Книгохранение
518003 01:Книгохранение
518004 01:Книгохранение
518005 01:Книгохранение
518006 01:Книгохранение
518007 01:Книгохранение
518008 01:Книгохранение
518009 01:Книгохранение
518010 01:Книгохранение
518011 01:Книгохранение
518012 01:Книгохранение
518013 01:Книгохранение
518014 01:Книгохранение
518015 01:Книгохранение
N2293 VIII-5 Р-125
Рабинович, О. И.
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов : лаб. практикум / О. И. Рабинович, Д. Г. Крутогин ; МИСиС, Каф. технологии материалов электроники . – М. : Изд-во МИСиС, 2013 . – 41с. : рис. + Библиогр. в конце лаб. работ. – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=540421 . - Пособие МИСиС . - ISBN 978-5-87623-710-1 .
621.315.592(075.8)
Общий = Материаловедение : полупроводники
Грифы = 2: УМО и НМС
Дисциплины = Б1 Дисциплины (модули) : Базовая часть : Основы технологии электронной компонентной базы
518001 01:Книгохранение
518002 01:Книгохранение
518003 01:Книгохранение
518004 01:Книгохранение
518005 01:Книгохранение
518006 01:Книгохранение
518007 01:Книгохранение
518008 01:Книгохранение
518009 01:Книгохранение
518010 01:Книгохранение
518011 01:Книгохранение
518012 01:Книгохранение
518013 01:Книгохранение
518014 01:Книгохранение
518015 01:Книгохранение