Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: 8. Нанометрология. Топографический и структурный анализ
8. Нанометрология. Топографический и структурный анализ
Книга (аналит. описание)
Автор:
8. Нанометрология. Топографический и структурный анализ
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
8. Нанометрология. Топографический и структурный анализ
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
8. Нанометрология. Топографический и структурный анализ // Введение в нанотехнологию : учебник / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, Г. Н. Лукьянов, В. А. Тупик . – СПб. : Лань, 2012 . – С. 322-344 . – (Учебники для вузов . Специальная лит.) .
8. Нанометрология. Топографический и структурный анализ // Введение в нанотехнологию : учебник / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, Г. Н. Лукьянов, В. А. Тупик . – СПб. : Лань, 2012 . – С. 322-344 . – (Учебники для вузов . Специальная лит.) .
Привязано к:
Доступно
2 из 3
Книга
Введение в нанотехнологию: учебник
ISBN 978-5-8114-1318-8
Библиотека МИСиС : Научный
Введение в нанотехнологию: учебник
Серия: Учебники для вузов
Лань, 2012 г.ISBN 978-5-8114-1318-8
Библиотека МИСиС : Научный