Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Юнин, П. А. - Исследование многослойных полупроводниковых SiGe-структур методами рентгеновской дифрактометрии, ...
Юнин, П. А. - Исследование многослойных полупроводниковых SiGe-структур методами рентгеновской дифрактометрии, ...
Статья
Автор: Юнин, П. А.
Физика и техника полупроводников: Исследование многослойных полупроводниковых SiGe-структур методами рентгеновской дифрактометрии, ...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Юнин, П. А.
Физика и техника полупроводников: Исследование многослойных полупроводниковых SiGe-структур методами рентгеновской дифрактометрии, ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Юнин, П. А.
Исследование многослойных полупроводниковых SiGe-структур методами рентгеновской дифрактометрии, малоугловой рефлектометрии и масс-спектрометрии вторичных ионов / П. А. Юнин, Ю. Н. Дроздов, М. Н. Дроздов // Физика и техника полупроводников . – 2013 . – Т. 47, N 12 . – С. 1580-1585 .
Юнин, П. А.
Исследование многослойных полупроводниковых SiGe-структур методами рентгеновской дифрактометрии, малоугловой рефлектометрии и масс-спектрометрии вторичных ионов / П. А. Юнин, Ю. Н. Дроздов, М. Н. Дроздов // Физика и техника полупроводников . – 2013 . – Т. 47, N 12 . – С. 1580-1585 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 47, N 12
2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 47, N 12
2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный