Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Тимошенко, В. Ю. - Исследование фотоэдс в структурах (пористый Si)/Si методом импульсного фотонапряжения / Аморфные,...
Тимошенко, В. Ю. - Исследование фотоэдс в структурах (пористый Si)/Si методом импульсного фотонапряжения / Аморфные,...
Статья
Автор: Тимошенко, В. Ю.
Физика и техника полупроводников: Исследование фотоэдс в структурах (пористый Si)/Si методом импульсного фотонапряжения / Аморфные,...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Тимошенко, В. Ю.
Физика и техника полупроводников: Исследование фотоэдс в структурах (пористый Si)/Si методом импульсного фотонапряжения / Аморфные,...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Тимошенко, В. Ю.
Исследование фотоэдс в структурах (пористый Si)/Si методом импульсного фотонапряжения / Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники / В. Ю. Тимошенко, Е. А. Константинова, Т. Дитрих // Физика и техника полупроводников . – 1998 . – Т. 32, N 5 . – 613-619 .
Тимошенко, В. Ю.
Исследование фотоэдс в структурах (пористый Si)/Si методом импульсного фотонапряжения / Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники / В. Ю. Тимошенко, Е. А. Константинова, Т. Дитрих // Физика и техника полупроводников . – 1998 . – Т. 32, N 5 . – 613-619 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 32, N 5
1998 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 32, N 5
1998 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный