Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Вишняков, Я. Д. - Исследование текстуры прокатки рентгеновским и электронномикроскопическим методами
Вишняков, Я. Д. - Исследование текстуры прокатки рентгеновским и электронномикроскопическим методами
Книга (аналит. описание)
Автор: Вишняков, Я. Д.
Вып.57: Пластическая деформация металлов: Исследование текстуры прокатки рентгеновским и электронномикроскопическим методами
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Вишняков, Я. Д.
Вып.57: Пластическая деформация металлов: Исследование текстуры прокатки рентгеновским и электронномикроскопическим методами
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Вишняков, Я. Д.
Исследование текстуры прокатки рентгеновским и электронномикроскопическим методами / Я. Д. Вишняков, В. Н. Барсуков, М. Н. Перегудов // Труды Московского института стали и сплавов : науч. труды / МИСиС . – М. : Металлургия. - Вып.57: Пластическая деформация металлов : Сб.статей / МИСиС . – М. : Металлургия, 1970 . – 224-229 .
Рассмотрены вопросы получения полюсных фигур методами рентгеновской дифрактометрии: метод 'наклона', метод 'поворота', различные способы введения поправок, методика построения и анализа полюсных фигур. Также рассмотрен метод определения ориентировки кристаллитов в крупнокристаллических материалах с использованием дифрактометра и методика определения ориентировки электронно-микроскопическим методом.
Вишняков, Я. Д.
Исследование текстуры прокатки рентгеновским и электронномикроскопическим методами / Я. Д. Вишняков, В. Н. Барсуков, М. Н. Перегудов // Труды Московского института стали и сплавов : науч. труды / МИСиС . – М. : Металлургия. - Вып.57: Пластическая деформация металлов : Сб.статей / МИСиС . – М. : Металлургия, 1970 . – 224-229 .
Рассмотрены вопросы получения полюсных фигур методами рентгеновской дифрактометрии: метод 'наклона', метод 'поворота', различные способы введения поправок, методика построения и анализа полюсных фигур. Также рассмотрен метод определения ориентировки кристаллитов в крупнокристаллических материалах с использованием дифрактометра и методика определения ориентировки электронно-микроскопическим методом.