Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Исследование и разработка методов улучшения и оптимизации параметров полупроводниковых микросхем ...
Исследование и разработка методов улучшения и оптимизации параметров полупроводниковых микросхем ...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Отчет
Автор:
Исследование и разработка методов улучшения и оптимизации параметров полупроводниковых микросхем ... : Отчет о НИР
Издательство: [МИСиС], 1985 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Исследование и разработка методов улучшения и оптимизации параметров полупроводниковых микросхем ... : Отчет о НИР
Издательство: [МИСиС], 1985 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Отчет
Исследование и разработка методов улучшения и оптимизации параметров полупроводниковых микросхем с применением радиационнотермических процессов : Отчет о НИР / Е. А. Ладыгин, В. А. Макаров . – М. : [МИСиС], 1985 . – 110 с. - 0286.0 043524. Шифр темы 135005. ГР N 81059291. (Для служебного пользования).
Общий = Электротехника : электроника : полупроводниковая электроника
СП-18484 27:Фонд отчетов ДСП МИСиС
Исследование и разработка методов улучшения и оптимизации параметров полупроводниковых микросхем с применением радиационнотермических процессов : Отчет о НИР / Е. А. Ладыгин, В. А. Макаров . – М. : [МИСиС], 1985 . – 110 с. - 0286.0 043524. Шифр темы 135005. ГР N 81059291. (Для служебного пользования).
Общий = Электротехника : электроника : полупроводниковая электроника
СП-18484 27:Фонд отчетов ДСП МИСиС