Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: 2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
Книга (аналит. описание)
Автор:
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: 2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: 2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов // Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ. / Р. Андерхальт, П. Анзалоне, П. Р. Апкариан, др. ; ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга . – М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 . – С. 66-106 .
2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов // Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ. / Р. Андерхальт, П. Анзалоне, П. Р. Апкариан, др. ; ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга . – М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 . – С. 66-106 .
Привязано к:
Доступно
3 из 3
Книга
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963-1110-1
Библиотека МИСиС : Научный
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963-1110-1
Библиотека МИСиС : Научный