Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
 Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери
  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки
  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин
  • Информация о фонде
  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Сканирующая микроскопия

Сканирующая микроскопия

Книга (аналит. описание)
Автор:
Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы: Сканирующая микроскопия
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Сканирующая микроскопия // Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы : пер. с англ. / Д. Уайтхауз . – Долгопрудный : Интеллект, 2009 . – С. 273-287 .






Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 3 из 3
Книга
Уайтхауз, Д.
Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы: пер. с англ.
Интеллект, 2009 г.
ISBN 978-5-91559-023-5
Библиотека МИСИС : Научный


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167