Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Васильев, А. Л. - Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной...
Васильев, А. Л. - Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной...
Статья
Автор: Васильев, А. Л.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Васильев, А. Л.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Васильев, А. Л.
Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной поверхностным рельефом образца / А. Л. Васильев, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2016 . – N 12 . – С. 15-18 .
Васильев, А. Л.
Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной поверхностным рельефом образца / А. Л. Васильев, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2016 . – N 12 . – С. 15-18 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 12
2016 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 12
2016 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный