Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Макеев, М. О. - Исследование термической деградации омических контактов AlAs/GaAs резонансно-туннельных диодов на...
Макеев, М. О. - Исследование термической деградации омических контактов AlAs/GaAs резонансно-туннельных диодов на...
Статья
Автор: Макеев, М. О.
Электрометаллургия: Исследование термической деградации омических контактов AlAs/GaAs резонансно-туннельных диодов на...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Макеев, М. О.
Электрометаллургия: Исследование термической деградации омических контактов AlAs/GaAs резонансно-туннельных диодов на...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Макеев, М. О.
Исследование термической деградации омических контактов AlAs/GaAs резонансно-туннельных диодов на основе анализа кинетики вольт-амперных характеристик / М. О. Макеев, С. А. Мешков, В. Ю. Синякин // Электрометаллургия . – 2017 . – N 9 . – С. 24-30 .
Макеев, М. О.
Исследование термической деградации омических контактов AlAs/GaAs резонансно-туннельных диодов на основе анализа кинетики вольт-амперных характеристик / М. О. Макеев, С. А. Мешков, В. Ю. Синякин // Электрометаллургия . – 2017 . – N 9 . – С. 24-30 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1