Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бублик, В. Т. - Методы исследования структуры полупроводников: Металлографические методы исследования. Основные м...
Бублик, В. Т. - Методы исследования структуры полупроводников: Металлографические методы исследования. Основные м...
Доступно
5 из 5
5 из 5
Книга
Автор: Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников: Металлографические методы исследования. Основные м... : лаб. практикум для студ.спец.0604,0629,0643
Издательство: Учеба, 1985 г.
ISBN отсутствует
Автор: Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников: Металлографические методы исследования. Основные м... : лаб. практикум для студ.спец.0604,0629,0643
Издательство: Учеба, 1985 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
VIII-5 Б-90
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников: Металлографические методы исследования. Основные методы рентгеноструктурного анализа : лаб. практикум для студ.спец.0604,0629,0643 / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина, Г. М. Зимичева . – М. : Учеба, 1985 . – 175с. : ил. + Библиогр. – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=99531 . - Пособие МИСиС : руб. 0.28 .
621.315.592
574116 01:Книгохранение
574117 01:Книгохранение
574118 01:Книгохранение
574119 01:Книгохранение
574120 01:Книгохранение
VIII-5 Б-90
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников: Металлографические методы исследования. Основные методы рентгеноструктурного анализа : лаб. практикум для студ.спец.0604,0629,0643 / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина, Г. М. Зимичева . – М. : Учеба, 1985 . – 175с. : ил. + Библиогр. – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=99531 . - Пособие МИСиС : руб. 0.28 .
621.315.592
574116 01:Книгохранение
574117 01:Книгохранение
574118 01:Книгохранение
574119 01:Книгохранение
574120 01:Книгохранение