Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
6 из 6
Доступно
5 из 5
Доступно
6 из 6
Доступно
6 из 6
Доступно
2 из 2
Доступно
2 из 2
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Бублик, В. Т.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:


Доступно
6 из 6
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников.: Электронография.Рентгеновская и электронная микро...: лаб. практикум для студ. спец. 0604, 0629, 0643
Учеба, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников.: Электронография.Рентгеновская и электронная микро...: лаб. практикум для студ. спец. 0604, 0629, 0643
Учеба, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
5 из 5
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников: Металлографические методы исследования. Основные м...: лаб. практикум для студ.спец.0604,0629,0643
Учеба, 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников: Металлографические методы исследования. Основные м...: лаб. практикум для студ.спец.0604,0629,0643
Учеба, 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
6 из 6
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры.Применение методов рентгеноструктурного анализа (исследование струк...: лаб. практикум для студ. спец. 0604,0629,0643 (часть 2)
Учеба, 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры.Применение методов рентгеноструктурного анализа (исследование струк...: лаб. практикум для студ. спец. 0604,0629,0643 (часть 2)
Учеба, 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Статья
Щербачев, К. Д.
Микродефекты в арсениде галлия / Материалы электронной техники
б.г.
ISBN отсутствует
Щербачев, К. Д.
Микродефекты в арсениде галлия / Материалы электронной техники
б.г.
ISBN отсутствует






Книга (аналит. описание)
Безбородова, В. М.
Определение области гомогенности HgSe по результатам измерений периода решетки и плотности
б.г.
ISBN отсутствует
Безбородова, В. М.
Определение области гомогенности HgSe по результатам измерений периода решетки и плотности
б.г.
ISBN отсутствует

Доступно
6 из 6
Книга
Бублик, В. Т.
Определение структуры и свойств элементов полупроводниковых устройств: лаб. практикум для студ. спец. 0604 специализация 'Физ.материаловедение микроэлектроники'
Учеба, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Бублик, В. Т.
Определение структуры и свойств элементов полупроводниковых устройств: лаб. практикум для студ. спец. 0604 специализация 'Физ.материаловедение микроэлектроники'
Учеба, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Определение энергии смешения и упругих постоянных твердого раствора Ge-Si (28% Si) методом диффуз...
б.г.
ISBN отсутствует
Бублик, В. Т.
Определение энергии смешения и упругих постоянных твердого раствора Ge-Si (28% Si) методом диффуз...
б.г.
ISBN отсутствует

Статья
Новодворский, О. А.
Оптические и структурные характеристики пленок оксида цинка, легированных галлием
б.г.
ISBN отсутствует
Новодворский, О. А.
Оптические и структурные характеристики пленок оксида цинка, легированных галлием
б.г.
ISBN отсутствует

Доступно
2 из 2
Книга
Бублик, В. Т.
Основные принципы просвечивающей электронной микроскопии: Конспект лекций для спец.'Полупроводники и диэлектрики'
Учеба, 1970 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Бублик, В. Т.
Основные принципы просвечивающей электронной микроскопии: Конспект лекций для спец.'Полупроводники и диэлектрики'
Учеба, 1970 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
2 из 2
Книга
Бублик, В. Т.
Основы динамической теории интерференции рентгеновских лучей
Учеба, 1971 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Бублик, В. Т.
Основы динамической теории интерференции рентгеновских лучей
Учеба, 1971 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
1 из 1
Диссертация
Комарницкая, Е. А.
Особенности дефектообразования в ионноимплантированных слоях арсенида галлия: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 2000 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Комарницкая, Е. А.
Особенности дефектообразования в ионноимплантированных слоях арсенида галлия: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 2000 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Статья
Борик, М. А.
Особенности методики исследования кристаллов частично стабилизированного диоксида циркония
б.г.
ISBN отсутствует
Борик, М. А.
Особенности методики исследования кристаллов частично стабилизированного диоксида циркония
б.г.
ISBN отсутствует

Доступно
1 из 1
Диссертация
Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1997 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1997 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
1 из 1
Диссертация
Щербачев, К. Д.
Особенности микродефектов в монокристаллах соединений АшВvi, выявленных методом диффузного рассея...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1994 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Щербачев, К. Д.
Особенности микродефектов в монокристаллах соединений АшВvi, выявленных методом диффузного рассея...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1994 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
1 из 1
Автореферат
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
1 из 1
Диссертация
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Статья
Щербачев, К. Д.
Особенности образования радиационных дефектов в слое кремния структур "кремний на изоляторе"
б.г.
ISBN отсутствует
Щербачев, К. Д.
Особенности образования радиационных дефектов в слое кремния структур "кремний на изоляторе"
б.г.
ISBN отсутствует


Доступно
1 из 1
Автореферат
Пузанов, Д. Н.
Особенности расчета распределения концентрации собственных точечных дефектов в монокристаллах кре...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Пузанов, Д. Н.
Особенности расчета распределения концентрации собственных точечных дефектов в монокристаллах кре...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
1 из 1
Диссертация
Пузанов, Д. Н.
Особенности расчета распределения концентрации собственных точечных дефектов в монокристаллах кре...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Пузанов, Д. Н.
Особенности расчета распределения концентрации собственных точечных дефектов в монокристаллах кре...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
1 из 1
Автореферат
Курипятник, А. В.
Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифр...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2003 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Курипятник, А. В.
Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифр...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2003 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
1 из 1
Диссертация
Курипятник, А. В.
Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифр...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2003 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Курипятник, А. В.
Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифр...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2003 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный