Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
14 из 14
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Нет экз.
Доступно
1 из 1
Бублик, В. Т.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
![](http://elcat.lib.misis.ru/vmsua5379ghkip/app/webroot/img//progress.gif)
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/35.gif)
Доступно
1 из 1
Автореферат
Пузанов, Д. Н.
Особенности расчета распределения концентрации собственных точечных дефектов в монокристаллах кре...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Пузанов, Д. Н.
Особенности расчета распределения концентрации собственных точечных дефектов в монокристаллах кре...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Орлов, А. Ф.
Исследование структурных характеристик ферромагнитного Si, имплантированного Mn
б.г.
ISBN отсутствует
Орлов, А. Ф.
Исследование структурных характеристик ферромагнитного Si, имплантированного Mn
б.г.
ISBN отсутствует
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/44.gif)
Доступно
1 из 1
Диссертация
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/35.gif)
Доступно
1 из 1
Автореферат
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Новодворский, О. А.
Оптические и структурные характеристики пленок оксида цинка, легированных галлием
б.г.
ISBN отсутствует
Новодворский, О. А.
Оптические и структурные характеристики пленок оксида цинка, легированных галлием
б.г.
ISBN отсутствует
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/44.gif)
Доступно
1 из 1
Диссертация
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/35.gif)
Доступно
1 из 1
Автореферат
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Щербачев, К. Д.
Особенности образования радиационных дефектов в слое кремния структур "кремний на изоляторе"
б.г.
ISBN отсутствует
Щербачев, К. Д.
Особенности образования радиационных дефектов в слое кремния структур "кремний на изоляторе"
б.г.
ISBN отсутствует
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Борик, М. А.
Особенности методики исследования кристаллов частично стабилизированного диоксида циркония
б.г.
ISBN отсутствует
Борик, М. А.
Особенности методики исследования кристаллов частично стабилизированного диоксида циркония
б.г.
ISBN отсутствует
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
14 из 14
Книга
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-695-1
Библиотека МИСиС : Научный
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-695-1
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/44.gif)
Доступно
1 из 1
Диссертация
Борисова, Д. А.
Реальная структура мозаичных кристаллов в системе Ge-Si и условия ее возникновения: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Борисова, Д. А.
Реальная структура мозаичных кристаллов в системе Ge-Si и условия ее возникновения: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/35.gif)
Доступно
1 из 1
Автореферат
Борисова, Д. А.
Реальная структура мозаичных кристаллов в системе Ge-Si и условия ее возникновения: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Борисова, Д. А.
Реальная структура мозаичных кристаллов в системе Ge-Si и условия ее возникновения: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/44.gif)
Доступно
1 из 1
Диссертация
Богомолов, Д. И.
Структура и свойства низкотемпературных термоэлектрических материалов, полученных интенсивной пла...: дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства полупроводников,
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Богомолов, Д. И.
Структура и свойства низкотемпературных термоэлектрических материалов, полученных интенсивной пла...: дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства полупроводников,
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/35.gif)
Доступно
1 из 1
Автореферат
Богомолов, Д. И.
Структура и свойства низкотемпературных термоэлектрических материалов, полученных интенсивной пла...: автореф. дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Богомолов, Д. И.
Структура и свойства низкотемпературных термоэлектрических материалов, полученных интенсивной пла...: автореф. дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Борик, М. А.
Структура и механические свойства кристаллов частично стабилизированного диоксида циркония после ...
б.г.
ISBN отсутствует
Борик, М. А.
Структура и механические свойства кристаллов частично стабилизированного диоксида циркония после ...
б.г.
ISBN отсутствует
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/44.gif)
Доступно
1 из 1
Диссертация
Гочуа, К. В.
Влияние дефектности структуры на электрофизические свойства термоэлектрических материалов на осно...: дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства полупроводников,
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Гочуа, К. В.
Влияние дефектности структуры на электрофизические свойства термоэлектрических материалов на осно...: дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства полупроводников,
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/35.gif)
Доступно
1 из 1
Автореферат
Гочуа, К. В.
Влияние дефектности структуры на электрофизические свойства термоэлектрических материалов на осно...: автореф. дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Гочуа, К. В.
Влияние дефектности структуры на электрофизические свойства термоэлектрических материалов на осно...: автореф. дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/44.gif)
Доступно
1 из 1
Диссертация
Милович, Ф. О.
Структура и механические свойства кристаллов ZrO2 частично стабилизированных Y2O3: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Милович, Ф. О.
Структура и механические свойства кристаллов ZrO2 частично стабилизированных Y2O3: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/35.gif)
Доступно
1 из 1
Автореферат
Милович, Ф. О.
Структура и механические свойства кристаллов ZrO2 частично стабилизированных Y2O3: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Милович, Ф. О.
Структура и механические свойства кристаллов ZrO2 частично стабилизированных Y2O3: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/30.gif)
Нет экз.
Электронный ресурс
Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880): учеб. пособие
[МИСиС], 2016 г.
ISBN 978-5-87623-982-2
Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880): учеб. пособие
[МИСиС], 2016 г.
ISBN 978-5-87623-982-2
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/44.gif)
Доступно
1 из 1
Диссертация
Воронин, А. И.
Физические основы получения анизотропных твердых растворов халькогенидов висмута и сурьмы модифиц...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2017 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Воронин, А. И.
Физические основы получения анизотропных твердых растворов халькогенидов висмута и сурьмы модифиц...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2017 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный