Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Практическая растровая электронная микроскопия

Практическая растровая электронная микроскопия

Доступно
 2 из 2
Книга
Автор:
Практическая растровая электронная микроскопия
Издательство: Мир, 1978 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
VII-2 П-692

Практическая растровая электронная микроскопия / Д. Гоулдстейн, Х. Яковиц, Д. Ньюбэри, др., Д. Гоулдстейн, Х. Яковиц . – М. : Мир, 1978 . – 656 с. : ил. + Библиогр.: с. 615-642. : руб. 4.70 .

620.187


511113 01:Книгохранение
646463 01:Книгохранение



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)
Колби, Дж.
Глава 14. Ионно-ионный микроанализ по массам
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Коулман, Дж.
Глава 13. Применение рентгеновского микроанализа для исследования биологических объектов. Подгото...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Гоулдстейн, Д.
Глава 12. Специальные методы рентгеновского анализа образцов
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Яковиц, Х.
Глава 11. Практические вопросы рентгеновского микроанализа
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Яковиц, Х.
Глава 10. Вычислительные схемы для количественного рентгеновского микроанализа - анализ непосредс...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Яковиц, Х.
Глава 9. Методы количественного рентгеновского анализа, используемые в рентгеновском микроанализе...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Болон, Р.
Глава 8. Микроанализ тонких пленок и мелких структур
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Лифшин, Е.
Глава 7. Рентгеноспектральные измерения и их интерпретация
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Ньюбэри, Д.
Глава 6. Подготовка образцов, специальные методики и примеры применения растрового электронного м...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Ньюбэри, Д.
Глава 5. Механизмы формирования контраста изображения
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Ньюбэри, Д.
Глава 4. Формирование изображения в растровом электронном микроскопе
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Гоулдстейн, Д.
Глава 3. Взаимодействие электронного пучка с образцом
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Гоулдстейн, Д.
Глава 2. Электронная оптика
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Гоулдстейн, Д.
Глава 1. Введение. 1. Развитие растрового электронного микроскопа. 2. Развитие рентгеновского мик...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167