Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Гоулдстейн, Д. - Глава 12. Специальные методы рентгеновского анализа образцов

Гоулдстейн, Д. - Глава 12. Специальные методы рентгеновского анализа образцов

Книга (аналит. описание)
Автор: Гоулдстейн, Д.
Практическая растровая электронная микроскопия: Глава 12. Специальные методы рентгеновского анализа образцов
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Гоулдстейн, Д.
Глава 12. Специальные методы рентгеновского анализа образцов / Д. Гоулдстейн, Дж. Колби // Практическая растровая электронная микроскопия / Д. Гоулдстейн, Х. Яковиц, Д. Ньюбэри, др., Д. Гоулдстейн, Х. Яковиц . – М. : Мир, 1978 . – с. 469-527 .






Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 2 из 2
Книга

Практическая растровая электронная микроскопия
Мир, 1978 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167