Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Барыбин, А. А. - Анализ релаксации заряда в диэлектрической пленке
Барыбин, А. А. - Анализ релаксации заряда в диэлектрической пленке
Книга (аналит. описание)
Автор: Барыбин, А. А.
Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XIII Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007...: Анализ релаксации заряда в диэлектрической пленке
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Барыбин, А. А.
Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XIII Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007...: Анализ релаксации заряда в диэлектрической пленке
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Барыбин, А. А.
Анализ релаксации заряда в диэлектрической пленке / А. А. Барыбин, В. И. Шаповалов // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XIII Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007, 6-8 сент.). Тонкие пленки в электротехнике: материалы XX Междунар. симп. (Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана 2007, 6-8 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2007 . – С. 291-299 .
Барыбин, А. А.
Анализ релаксации заряда в диэлектрической пленке / А. А. Барыбин, В. И. Шаповалов // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XIII Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007, 6-8 сент.). Тонкие пленки в электротехнике: материалы XX Междунар. симп. (Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана 2007, 6-8 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2007 . – С. 291-299 .