Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Филимонов, В. Е. - Исследование влияния буферного слоя AlN на свойства слоистых структур, использующих высокотемпера...
Филимонов, В. Е. - Исследование влияния буферного слоя AlN на свойства слоистых структур, использующих высокотемпера...
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/7.gif)
Книга (аналит. описание)
Автор: Филимонов, В. Е.
Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники): материалы XIV Междунар. научно-техн. конф.(Москва, ЦНИТИ 'ТЕХНОМАШ', 2008, 11-13 сен...: Исследование влияния буферного слоя AlN на свойства слоистых структур, использующих высокотемпе...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Филимонов, В. Е.
Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники): материалы XIV Междунар. научно-техн. конф.(Москва, ЦНИТИ 'ТЕХНОМАШ', 2008, 11-13 сен...: Исследование влияния буферного слоя AlN на свойства слоистых структур, использующих высокотемпе...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Филимонов, В. Е.
Исследование влияния буферного слоя AlN на свойства слоистых структур, использующих высокотемпературные сверхпроводники / В. Е. Филимонов, А. В. Мороз, Н. И. Сушенцов // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники): материалы XIV Междунар. научно-техн. конф.(Москва, ЦНИТИ 'ТЕХНОМАШ', 2008, 11-13 сент.). Тонкие пленки в электронике: материалы XXI Междунар. симп. (Москва, ОАО ЦНИТИ 'Техномаш', 2008, 11-13 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2008 . – С. 439-443 .
Филимонов, В. Е.
Исследование влияния буферного слоя AlN на свойства слоистых структур, использующих высокотемпературные сверхпроводники / В. Е. Филимонов, А. В. Мороз, Н. И. Сушенцов // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники): материалы XIV Междунар. научно-техн. конф.(Москва, ЦНИТИ 'ТЕХНОМАШ', 2008, 11-13 сент.). Тонкие пленки в электронике: материалы XXI Междунар. симп. (Москва, ОАО ЦНИТИ 'Техномаш', 2008, 11-13 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2008 . – С. 439-443 .