Электронный каталог библиотеки МИСИС

Книга (аналит. описание)

Гольдман, Е. И.
Изменения динамических вольтамперных характеристик Si-МОП-структур со сверхтонким окислом в результате полевого и термического стрессов / Е. И. Гольдман, В. Г. Нарышкина, Г. В. Чучева // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники): материалы XVI Междунар. научно-техн. конф. (Москва, 'ЦНИТИ 'Техномаш', 2010, 9-11 сент.). Тонкие пленки в электронике: материалы XXIII Междунар. симп. (Москва, 'ЦНИТИ' 'Техномаш', 2010, 9-11 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2010 . – С. 181-184 .