Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Доступно
3 из 3
3 из 3
Книга
Автор:
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ.
Издательство: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963-1110-1
Автор:
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ.
Издательство: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963-1110-1
Заказать 
На полку
Книга
II-6 Р-245
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ. / Р. Андерхальт, П. Анзалоне, П. Р. Апкариан, др. ; ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга . – М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 . – 582с. : рис. + Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1650р.
537.533.35:620.22-022.532
Общий = Физика : электричество : электронная микроскопия
Общий = Материаловедение : наноматериалы : нанотехнология
523949 01:Книгохранение
523950 01:Книгохранение
523951 01:Книгохранение
II-6 Р-245
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ. / Р. Андерхальт, П. Анзалоне, П. Р. Апкариан, др. ; ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга . – М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 . – 582с. : рис. + Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1650р.
537.533.35:620.22-022.532
Общий = Физика : электричество : электронная микроскопия
Общий = Материаловедение : наноматериалы : нанотехнология
523949 01:Книгохранение
523950 01:Книгохранение
523951 01:Книгохранение
Связанные описания:
Книга (аналит. описание)
15. Низкотемпературные стадии в наноструктурных исследованиях
б.г.
ISBN отсутствует
15. Низкотемпературные стадии в наноструктурных исследованиях
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
13. Одномерные полупроводниковые структуры с кристаллической решеткой типа вюрцита
б.г.
ISBN отсутствует
13. Одномерные полупроводниковые структуры с кристаллической решеткой типа вюрцита
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
8. Применение фукусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наност...
б.г.
ISBN отсутствует
8. Применение фукусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наност...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
7. Введение в наноманипулирование in situ для конструирования наноматериалов
б.г.
ISBN отсутствует
7. Введение в наноманипулирование in situ для конструирования наноматериалов
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
6. Просвечивающая растровая электронная микроскопия для исследования наноструктур
б.г.
ISBN отсутствует
6. Просвечивающая растровая электронная микроскопия для исследования наноструктур
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
5. Электронно-лучевая нанолитография в растровом электронном микроскопе
б.г.
ISBN отсутствует
5. Электронно-лучевая нанолитография в растровом электронном микроскопе
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
4. Низкокиловольтная растровая электронная микроскопия
б.г.
ISBN отсутствует
4. Низкокиловольтная растровая электронная микроскопия
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
б.г.
ISBN отсутствует
2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
б.г.
ISBN отсутствует