Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Доступно
5 из 5
5 из 5
Книга
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Книга
II-9 А-64
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – 598 с. : ил. + Библиогр. в конце глав. : руб. 6.40 .
539.211
Общий = Электротехника : электроника : фотоэлектроника
598156 01:Книгохранение
598155 01:Книгохранение
598154 01:Книгохранение
598153 01:Книгохранение
592811 01:Книгохранение
II-9 А-64
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – 598 с. : ил. + Библиогр. в конце глав. : руб. 6.40 .
539.211
Общий = Электротехника : электроника : фотоэлектроника
598156 01:Книгохранение
598155 01:Книгохранение
598154 01:Книгохранение
598153 01:Книгохранение
592811 01:Книгохранение