Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Доступно
 4 из 5
Книга
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
II-9 А-64

Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – 598 с. : ил. + Библиогр. в конце глав. : руб. 6.40 .

539.211

Общий = Электротехника : электроника : фотоэлектроника

598156 01:Книгохранение
598155 01:Книгохранение
598154 00:На списании
598153 01:Книгохранение
592811 01:Книгохранение



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)
Вагнер, К. Д.
Прил. 8. Кинетические энергии оже-электронов: экспериментальные данные из спектров при рентгеновс...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Прил. 5. Эмпирические факторы элементной чувствительности для РФЭС
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Вагнер, К. Д.
Прил. 4. Сводка данных по энергиям оже-электронов, фотоэлектронов и оже-параметрам
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Шервуд, П. М. А.
Прил. 3. Обработка данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Свифт, П.
Прил. 2. Методы учета статической зарядки
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Энтони, М. Т.
Прил. 1. Калибровка спектрометров
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Макинтайр, Н. С.
Применение ожэ-электронной и фотоэлектронной спектроскопии в исследованиях коррозии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Бриггс, Д.
Применение РФЭС в технологии полимеров
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Барр, Т. Л.
Применение электронной спектроскопии в гетерогенном катализе
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Сих, М. П.
Оже-спектроскопия в металлургии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Олсон, Р. Р.
Применение ЭОС в микроэлектронике
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Сих, М. П.
Количественная оже-электронная и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Хофман, С.
Послойный анализ
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Бриггс, Д.
Интерпретация спектров
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Ривьер, Дж. К.
Оборудование
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Сих, М. П.
Перспективы анализа поверхности и границ раздела
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167