Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Доступно
3 из 3
3 из 3
Книга
Автор:
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Серия: Мир физики и техники
Издательство: Техносфера, 2014 г.
ISBN 978-5-94836-385-1
Автор:
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Серия: Мир физики и техники
Издательство: Техносфера, 2014 г.
ISBN 978-5-94836-385-1
Заказать 
На полку
Книга
VII-2 М-545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б. Л. Адамс, Н. Р. Бартон, Д. В. Бернье, др. ; ред. А. Д. Шварц, М. Кумар, Б. Л. Адамс, Д. П. Филд . – М. : Техносфера, 2014 . – 559с. : рис. + Библиогр. в конце гл. – (Мир физики и техники) . - ISBN 978-5-94836-385-1 : 1300р.
620.22:537.533.73
Общий = Материаловедение : исследования структуры материалов
531523 01:Книгохранение
531524 01:Книгохранение
531525 01:Книгохранение
VII-2 М-545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б. Л. Адамс, Н. Р. Бартон, Д. В. Бернье, др. ; ред. А. Д. Шварц, М. Кумар, Б. Л. Адамс, Д. П. Филд . – М. : Техносфера, 2014 . – 559с. : рис. + Библиогр. в конце гл. – (Мир физики и техники) . - ISBN 978-5-94836-385-1 : 1300р.
620.22:537.533.73
Общий = Материаловедение : исследования структуры материалов
531523 01:Книгохранение
531524 01:Книгохранение
531525 01:Книгохранение
Связанные описания:
Книга (аналит. описание)
Ким, П. Г.
27. Использование микроскопии картирования кристаллографических ориентаций для исследования проце...
б.г.
ISBN отсутствует
Ким, П. Г.
27. Использование микроскопии картирования кристаллографических ориентаций для исследования проце...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Прайор, Д. Д.
26. ДОЭ и науки о Земле: области применения, текущая практика, актуальные проблемы и задачи
б.г.
ISBN отсутствует
Прайор, Д. Д.
26. ДОЭ и науки о Земле: области применения, текущая практика, актуальные проблемы и задачи
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Эль-Дашер, Б. С.
25. Дифракция отраженных электронов в условиях низкого вакуума
б.г.
ISBN отсутствует
Эль-Дашер, Б. С.
25. Дифракция отраженных электронов в условиях низкого вакуума
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Райт, С. И.
24. Применение ДОЭ в экспериментах по деформации и нагреву образцов in situ
б.г.
ISBN отсутствует
Райт, С. И.
24. Применение ДОЭ в экспериментах по деформации и нагреву образцов in situ
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Салем, А. А.
23. Фазовый анализ альфа/бета титановых сплавов по их текстуре
б.г.
ISBN отсутствует
Салем, А. А.
23. Фазовый анализ альфа/бета титановых сплавов по их текстуре
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бингерт, Д. Ф.
22. Исследование с помощью методов ДОЭ локализации деформации сдвига и структурных дефектов при у...
б.г.
ISBN отсутствует
Бингерт, Д. Ф.
22. Исследование с помощью методов ДОЭ локализации деформации сдвига и структурных дефектов при у...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Миронов, С.
21. Применение ДОЭ для контроля микроструктуры материала при сварке и обработке трением с перемеш...
б.г.
ISBN отсутствует
Миронов, С.
21. Применение ДОЭ для контроля микроструктуры материала при сварке и обработке трением с перемеш...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
МакНеллей, Т. Р.
20. Применение методов ДОЭ для исследования процесса интенсивной пластической деформации (ИПД) и ...
б.г.
ISBN отсутствует
МакНеллей, Т. Р.
20. Применение методов ДОЭ для исследования процесса интенсивной пластической деформации (ИПД) и ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
19. Анализ деформационных структур в материалах с ГЦК-структурой с помощью ДОЭ и ПЭМ
б.г.
ISBN отсутствует
19. Анализ деформационных структур в материалах с ГЦК-структурой с помощью ДОЭ и ПЭМ
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Брюэр, Л. Н.
18. Картирование и количественная оценка пластической деформации средствами ДОЭ
б.г.
ISBN отсутствует
Брюэр, Л. Н.
18. Картирование и количественная оценка пластической деформации средствами ДОЭ
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Уилкинсон, А. Д.
17. Картирование деформаций в образце при помощи дифракции отраженных электронов
б.г.
ISBN отсутствует
Уилкинсон, А. Д.
17. Картирование деформаций в образце при помощи дифракции отраженных электронов
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Рорер, Г. С.
16. Измерение распределения межзеренных границ по пяти параметрам на основе плоских срезов
б.г.
ISBN отсутствует
Рорер, Г. С.
16. Измерение распределения межзеренных границ по пяти параметрам на основе плоских срезов
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Раджан, К.
14. Комбинаторное материаловедение и ДОЭ: высокопроизводительный метод исследований
б.г.
ISBN отсутствует
Раджан, К.
14. Комбинаторное материаловедение и ДОЭ: высокопроизводительный метод исследований
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Фуллвуд, Д. Т.
13. Разработка материалов методом моделирования микроструктуры второго порядка с использованием д...
б.г.
ISBN отсутствует
Фуллвуд, Д. Т.
13. Разработка материалов методом моделирования микроструктуры второго порядка с использованием д...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Калидинди, С. Р.
12. Проектирование с учетом микроструктуры материала первого порядка на основе статистических дан...
б.г.
ISBN отсутствует
Калидинди, С. Р.
12. Проектирование с учетом микроструктуры материала первого порядка на основе статистических дан...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бартон, Н. Р.
11. Прямое трехмерное моделирование пластической деформации на основе данных, полученных методом ...
б.г.
ISBN отсутствует
Бартон, Н. Р.
11. Прямое трехмерное моделирование пластической деформации на основе данных, полученных методом ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Синтай, С. Д.
10. Трехмерная реконструкция цифровых микроструктур
б.г.
ISBN отсутствует
Синтай, С. Д.
10. Трехмерная реконструкция цифровых микроструктур
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Гребер, М. А.
9. Сбор, обработка и анализ наборов данных трехмерных карт ДОЭ
б.г.
ISBN отсутствует
Гребер, М. А.
9. Сбор, обработка и анализ наборов данных трехмерных карт ДОЭ
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Цефферер, С.
8. Трехмерная ориентационная микроскопия посредством ориентационного картирования последовательны...
б.г.
ISBN отсутствует
Цефферер, С.
8. Трехмерная ориентационная микроскопия посредством ориентационного картирования последовательны...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Дингли, Д. Д.
7. Идентификация фаз на основе симметрии в картинах ДОЭ
б.г.
ISBN отсутствует
Дингли, Д. Д.
7. Идентификация фаз на основе симметрии в картинах ДОЭ
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Эль-Дашер, Б.
6. Применение дифракции отраженных электронов для фазового анализа
б.г.
ISBN отсутствует
Эль-Дашер, Б.
6. Применение дифракции отраженных электронов для фазового анализа
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Идс, Э.
4. Дифракция отраженных электронов с энергетической фильтрацией
б.г.
ISBN отсутствует
Идс, Э.
4. Дифракция отраженных электронов с энергетической фильтрацией
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Винкельман, А.
2. Динамическое моделирование картин дифракции отраженных электронов
б.г.
ISBN отсутствует
Винкельман, А.
2. Динамическое моделирование картин дифракции отраженных электронов
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Шварцер, Р. А.
1. Современное состояние и перспективы метода дифракции отраженных электронов
б.г.
ISBN отсутствует
Шварцер, Р. А.
1. Современное состояние и перспективы метода дифракции отраженных электронов
б.г.
ISBN отсутствует