Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Цефферер, С. - 8. Трехмерная ориентационная микроскопия посредством ориентационного картирования последовательны...
Цефферер, С. - 8. Трехмерная ориентационная микроскопия посредством ориентационного картирования последовательны...
Книга (аналит. описание)
Автор: Цефферер, С.
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении: 8. Трехмерная ориентационная микроскопия посредством ориентационного картирования последовательны...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Цефферер, С.
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении: 8. Трехмерная ориентационная микроскопия посредством ориентационного картирования последовательны...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Цефферер, С.
8. Трехмерная ориентационная микроскопия посредством ориентационного картирования последовательных срезов образца методом ДОЭ в приборе с фокусированным ионным пучком на базе РЭМ / С. Цефферер, С. И. Райт // Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б. Л. Адамс, Н. Р. Бартон, Д. В. Бернье, др. ; ред. А. Д. Шварц, М. Кумар, Б. Л. Адамс, Д. П. Филд . – М. : Техносфера, 2014 . – С. 179-198 . – (Мир физики и техники) .
Цефферер, С.
8. Трехмерная ориентационная микроскопия посредством ориентационного картирования последовательных срезов образца методом ДОЭ в приборе с фокусированным ионным пучком на базе РЭМ / С. Цефферер, С. И. Райт // Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б. Л. Адамс, Н. Р. Бартон, Д. В. Бернье, др. ; ред. А. Д. Шварц, М. Кумар, Б. Л. Адамс, Д. П. Филд . – М. : Техносфера, 2014 . – С. 179-198 . – (Мир физики и техники) .
Привязано к:
Доступно
3 из 3
Книга
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
ISBN 978-5-94836-385-1
Библиотека МИСИС : Научный
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Серия: Мир физики и техники
Техносфера, 2014 г.ISBN 978-5-94836-385-1
Библиотека МИСИС : Научный