Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Фуллвуд, Д. Т. - 13. Разработка материалов методом моделирования микроструктуры второго порядка с использованием д...
Фуллвуд, Д. Т. - 13. Разработка материалов методом моделирования микроструктуры второго порядка с использованием д...
Книга (аналит. описание)
Автор: Фуллвуд, Д. Т.
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении: 13. Разработка материалов методом моделирования микроструктуры второго порядка с использованием д...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Фуллвуд, Д. Т.
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении: 13. Разработка материалов методом моделирования микроструктуры второго порядка с использованием д...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Фуллвуд, Д. Т.
13. Разработка материалов методом моделирования микроструктуры второго порядка с использованием двухточечных пространсвенных корреляций / Д. Т. Фуллвуд, С. Р. Калидинди, Б. Л. Адамс // Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б. Л. Адамс, Н. Р. Бартон, Д. В. Бернье, др. ; ред. А. Д. Шварц, М. Кумар, Б. Л. Адамс, Д. П. Филд . – М. : Техносфера, 2014 . – С. 267-281 . – (Мир физики и техники) .
Фуллвуд, Д. Т.
13. Разработка материалов методом моделирования микроструктуры второго порядка с использованием двухточечных пространсвенных корреляций / Д. Т. Фуллвуд, С. Р. Калидинди, Б. Л. Адамс // Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б. Л. Адамс, Н. Р. Бартон, Д. В. Бернье, др. ; ред. А. Д. Шварц, М. Кумар, Б. Л. Адамс, Д. П. Филд . – М. : Техносфера, 2014 . – С. 267-281 . – (Мир физики и техники) .
Привязано к:
Доступно
3 из 3
Книга
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
ISBN 978-5-94836-385-1
Библиотека МИСиС : Научный
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Серия: Мир физики и техники
Техносфера, 2014 г.ISBN 978-5-94836-385-1
Библиотека МИСиС : Научный