Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Ким, П. Г. - 27. Использование микроскопии картирования кристаллографических ориентаций для исследования проце...
Ким, П. Г. - 27. Использование микроскопии картирования кристаллографических ориентаций для исследования проце...
Книга (аналит. описание)
Автор: Ким, П. Г.
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении: 27. Использование микроскопии картирования кристаллографических ориентаций для исследования проце...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Ким, П. Г.
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении: 27. Использование микроскопии картирования кристаллографических ориентаций для исследования проце...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Ким, П. Г.
27. Использование микроскопии картирования кристаллографических ориентаций для исследования процессов высокотемпературного окисления / П. Г. Ким, Е. А. Шпунар // Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б. Л. Адамс, Н. Р. Бартон, Д. В. Бернье, др. ; ред. А. Д. Шварц, М. Кумар, Б. Л. Адамс, Д. П. Филд . – М. : Техносфера, 2014 . – С. 501-532 . – (Мир физики и техники) .
Ким, П. Г.
27. Использование микроскопии картирования кристаллографических ориентаций для исследования процессов высокотемпературного окисления / П. Г. Ким, Е. А. Шпунар // Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б. Л. Адамс, Н. Р. Бартон, Д. В. Бернье, др. ; ред. А. Д. Шварц, М. Кумар, Б. Л. Адамс, Д. П. Филд . – М. : Техносфера, 2014 . – С. 501-532 . – (Мир физики и техники) .
Привязано к:
Доступно
3 из 3
Книга
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
ISBN 978-5-94836-385-1
Библиотека МИСиС : Научный
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Серия: Мир физики и техники
Техносфера, 2014 г.ISBN 978-5-94836-385-1
Библиотека МИСиС : Научный